微分干涉（DIC）显微镜的工作原理是利用相干光干涉现象，将样品表面形貌的变化转化为光程差。利用位置敏感探测器检测光波前的强度变化，并通过数字信号处理得到样品表面的高度变化。同时，该技术还可以通过调节相对相位差，实现多种光程差的测量，从而得到更为精细的表面形貌信息。微分干涉（DIC）显微镜广泛应用于生物显微学、半导体芯片表面检测、纳米材料的制备和改性、精密零件的表面质量检测、PCB缺陷检测、精密模具检测等，是现代科学研究中重要的工具之一。
它的优点是高分辨率、高精度、无接触和非破坏性的测量方式。相对于传统的显微镜，其分辨率可以达到亚纳米级，能够观察到更细小的表面结构和形貌变化。同时，由于该技术无需与样品接触，免除了对样品的损伤和污染，非常适合对生物和医学样品进行观察和研究。
波长光电开发的微分干涉（DIC）显微镜采用紧凑稳定的高刚性主体，满足显微操作的防震要求；模块化功能设计理念，方便系统升级，导柱升降装置，可快速调整工作台与物镜之间的距离，适用于不同厚度工件检测，搭载机械移动式载物平台，有效定位工件，适合于显微观察或多试样快速检测。人机工程学理想设计，操作更方便舒适，空间更广阔。
线路板导电粒子检测
产品参数
微分干涉（DIC）显微镜作为一种高分辨率的显微镜技术，在现代科学研究中发挥着重要作用。随着科技的发展，它将会越来越精密和高效，为科学研究和工业制造带来更多的可能性和机遇。
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